產(chǎn)品分類
日本大塚otsuka 電位·粒徑·分子量測試系統(tǒng) ● nanoSAQLA是一臺通過動態(tài)光散亂法(DLS法)測量粒徑(粒徑0.6nm~10um)的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測定的新光學(xué)系統(tǒng),實現(xiàn)了實驗室必需的輕量、小型化、標(biāo)準(zhǔn)1分鐘的高速測定。 另外,這是一款非浸泡型、不受接觸器影響、無需自動取樣器、標(biāo)準(zhǔn)配備“5檢體連續(xù)測量”的新產(chǎn)品。
更新時間:2025-04-09
產(chǎn)品型號:ZETA ELSZneo
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日本大塚otsuka SMART光學(xué)膜厚計測厚儀與桌上型光學(xué)膜厚儀相比,Smart膜厚儀在“現(xiàn)場”以非破壞式直接量測樣品,且可以量測特殊形狀樣品。與接觸式膜厚儀相比,Smart膜厚儀不僅不會破壞您的樣品,也不會因為用戶不同而產(chǎn)生誤差且遠(yuǎn)高于接觸式膜厚計的量測精度。
更新時間:2025-04-09
產(chǎn)品型號:
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